CS350M電化學(xué)工作站  ￥52200

儀器簡(jiǎn)介：     

   CS系列電化學(xué)工作站具有出色的穩(wěn)定性和**度，先進(jìn)的硬件和功能完善的軟件，為涉及能源、材料、生命科學(xué)、環(huán)保等領(lǐng)域的科技工作者提供了優(yōu)良的科研平臺(tái)。具體應(yīng)用于：1）電合成、電沉積（電鍍）、陽極氧化等反應(yīng)機(jī)理研究；2）電分析化學(xué)研究；電化學(xué)傳感器的性能研究；3）新型能源材料（鋰離子電池、太陽能電池、燃料動(dòng)力電池和超級(jí)電容器等）、先進(jìn)功能材料以及光電材料的性能研究；4）金屬材料在不同介質(zhì)（水/混凝土/土壤等）中的腐蝕研究與耐蝕性評(píng)價(jià)；5）緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率的快速評(píng)價(jià)。

1、硬件參數(shù)指標(biāo)

恒電位電位控制范圍：±10V

恒電流控制范圍：±2.0A

電位控制精度：0.1%@Fullscale±1mV

電流控制精度：0.1%@Fullscale

電位分辨率：10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz)

電流靈敏度：1pA

電位上升時(shí)間：<1mS(<10mA), <10mS(<2A)

參比電極輸入阻抗：10¹²W||20pF

電流量程：2nA～2 A ， 共10檔

槽壓：±21V

*大輸出電流：2.0A

CV 和LSV掃描速度：0.001mV～10V/s

CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s

電流掃描增量：1mA @1A/mS

電位掃描時(shí)電位增量：0.076mV @1V/mS

SWV頻率：0.001～100KHz

DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s

AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz, 20bit @1KHz

DA分辨率：16bit, 建立時(shí)間：1mS

CV的*小電位增量：0.075mV

IMP頻率：10mHz~1MHz

低通濾波器：8段可編程

電流與電位量程：自動(dòng)設(shè)置

接口通訊模式：USB2.0

2、電化學(xué)阻抗功能指標(biāo)

信號(hào)發(fā)生器：

頻率響應(yīng)：10mHz~1MHz

頻率**度：0.005%

交流信號(hào)幅值：1mV~2500mV

信號(hào)分辨率：0.1mV RMS

直流偏壓：-10~+10V

DDS輸出阻抗：50W

波形：正弦波，三角波，方波

正弦波失真：<1%

掃描方式：對(duì)數(shù)/線性，增加/下降

信號(hào)分析器：

*小積分時(shí)間：10mS 或循環(huán)的*長(zhǎng)時(shí)間

*大積分時(shí)間：10⁶個(gè)循環(huán)或者10⁵S

測(cè)量時(shí)間延遲：0~10⁵秒

直流偏置補(bǔ)償：

電位自動(dòng)補(bǔ)償范圍：-10V~+10V

電流補(bǔ)償范圍：-1A~+1A

帶寬調(diào)整(Bandwidth) ：

自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置，共8級(jí)可調(diào)

3、CorrTest測(cè)量與控制軟件主要功能

穩(wěn)態(tài)極化：開路電位測(cè)量（OCP）、恒電位極化（I-t曲線)、恒電流極化、動(dòng)電位掃描（TAFEL曲線）、動(dòng)電流掃描（DGP）

暫態(tài)極化：任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、多電位階躍（VSTEP）、多電流階躍

計(jì)時(shí)分析：計(jì)時(shí)電位法（CP）、計(jì)時(shí)電流法（CA）、計(jì)時(shí)電量法（CC）

伏安分析：線性掃描伏安法（LSV）^#、線性循環(huán)伏安法（CV）、階梯循環(huán)伏安法（SCV）^#、方波伏安法（SWV）^#、差分脈沖伏安法（DPV）^#、常規(guī)脈沖伏安法（NPV）^#、常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV）^#、差分脈沖電流檢測(cè)法（DPA）、雙差分脈沖電流檢測(cè)法（DDPA）、三脈沖電流檢測(cè)法（TPA）、積分脈沖電流檢測(cè)法（IPAD）、交流伏安法（ACV）^#、二次諧波交流伏安（SHACV）、傅里葉變換交流伏安（FTACV）（標(biāo)#號(hào)的方法包括相應(yīng)的溶出伏安分析方法）

交流阻抗：電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描、電化學(xué)阻抗（EIS）～時(shí)間掃描、電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描（Mott-Schottky曲線）、恒流阻抗測(cè)試

腐蝕測(cè)量：動(dòng)電位再活化法（EPR）、電化學(xué)噪聲（EN）、電偶腐蝕測(cè)量（ZRA）、氫擴(kuò)散測(cè)試、晶間腐蝕測(cè)量

電池測(cè)試：電池充放電測(cè)試、恒電流充放電、恒電流滴定GITT、恒電位滴定PITT

其他：圓盤電極測(cè)試以及轉(zhuǎn)速控制、溶液電阻測(cè)量（IR降）、溶液電阻正反饋補(bǔ)償（IR補(bǔ)償）

4、儀器配置

1）儀器主機(jī)1臺(tái)；

2）CorrTest測(cè)試與分析軟件1套

3）電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條

4）電極電纜線（含噪聲測(cè)量線）1條

5）模擬電解池1個(gè)（儀器自檢器件）