X123 FAST SDD力電同步測試能譜儀  ￥705000

一、技術(shù)參數(shù)：（品牌：Amptek; 型號：X123 FAST SDD）
*1．EDS 探測器需適配Phenom Pharos型號掃描電鏡；
2．硬件結(jié)構(gòu)：能譜儀與掃描電鏡為集成式一體化設(shè)計(jì)，完全內(nèi)置型能譜一體機(jī)，能譜對SEM的控制權(quán)限與協(xié)同效率優(yōu)于第三方能譜；
3．探測器類型：硅漂移探測器（SDD）；
4．探測器晶體活性面積：30mm2；
5．冷卻方式：無液氮Peltier 效應(yīng)制冷；
*6. 探測器窗口：Si3N4窗口，化學(xué)穩(wěn)定性高，機(jī)械強(qiáng)度高；
7．元素探測范圍：B（5）-Am（95）；
*8．能量分辨率：123eV（Mn Ka）；
9．*大計(jì)數(shù)：優(yōu)于1,000,000Counts；
10．痕量元素分析檢測限：0.1 %（質(zhì)量百分比）；
11．軟件功能：可自動或手動進(jìn)行元素譜峰識別，并可利用可視化峰剝離技術(shù)驗(yàn)證重疊峰識別的正確性，具有點(diǎn)掃描，線掃描，面掃描功能；
12．譜定量分析：采用先進(jìn)修正技術(shù)和虛擬標(biāo)樣數(shù)據(jù)庫，系統(tǒng)能夠自動根據(jù)原子序數(shù)，相互吸收以及熒光進(jìn)行有效校正，數(shù)據(jù)重現(xiàn)性好。

二、具體配置：
序號產(chǎn)品名稱品牌 數(shù)量 備注
1 X 射線探測器Amptek 1
2 數(shù)據(jù)處理器Amptek 1
3 準(zhǔn)直器 無 1
4 feedthrough 連接閥無 1
5 連接線 無 若干
6 能譜校準(zhǔn)標(biāo)樣無 1